| |
 產(chǎn)品分類 > EMI測(cè)試設(shè)備 > TEM小室 |
|
|
|
|
 |
TEM小室 |
 |
|
| |
|
 |
|
| 開放式TEM小室（三平板小室）非常適用于對(duì)小物體進(jìn)行抗干擾測(cè)試，主要面向歐盟標(biāo)準(zhǔn)（CE）以及汽車電子產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)SAE J1113-25或其他醫(yī)學(xué)實(shí)驗(yàn)。優(yōu)勢(shì)是開放性以及容易控制的待測(cè)設(shè)備的功能。 |
|
|
 |
|
| 封閉式TEM小室TEM F200和TEM F500專用設(shè)計(jì)汽車電子零部件抗擾度測(cè)試滿足ISO11452-3和SAE J1113-24。TEM F1000和TEM F3000用于采用小功率功放對(duì)小尺寸器件進(jìn)行測(cè)試，這種方法相對(duì)于暗室加天線的方法便宜許多。 |
|
|
網(wǎng)站地圖